SNO2类溅射靶及其制造方法

来源:国际公布 2008-5-12 17:15:03
核心提示:本发明提供一种高性能的SNO2类溅射靶,其具有高相对密度,而且可以在防止异常放电和防止粒子产生的同时、在高成模速度下形成兼具低比电阻和高透过率两者的溅射膜。

  本发明提供一种高性能的SNO2类溅射靶,其具有高相对密度,而且可以在防止异常放电和防止粒子产生的同时、在高成模速度下形成兼具低比电阻和高透过率两者的溅射膜。该溅射靶的制造方法中包含将未烧结的成型体在1550~1650℃下进行烧结的工序,其中,所述未烧结的成型体以SNO2为主要成分、含有NB2O5和TA2O5共计1.15~10质量%、NB2O5/TA2O5的含量质量比为0.15~0.90。 

  申请人 三井金属矿业株式会社 

  地址 日本东京都 

  发明(设计)人 森中泰三 

  主分类号 C23C14/34(2006.01)I 

  分类号 C23C14/34(2006.01)I C04B35/457(2006.01)I 

  法律状态 前往专利局官方网站查询 

本专利更多信息

主权项 1.SNO2类溅射靶的制造方法,包括:预先制备以SNO2为主要成分、含有NB2O5和TA2O5共计1.15~10质量%、NB2O5/TA2O5的含量质量比为0.15~0.90的未烧结的成型体, 然后将该成型体在1550~1650℃下进行烧结的工序。
 
公开(公告)号 101128618
 
公开(公告)日 2008-02-20
 
专利代理机构 中国专利代理(香港)有限公司
 
代理人 曹雯 李炳爱
 
颁证日  
 
优先权 2005.11.9 JP 324837/2005
 
国际申请 2006-11-08 PCT/JP2006/322253
 
国际公布 2007-05-18 WO2007/055231 日
 
进入国家日期 2007.08.27

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